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测试设备校验广元-第三方公司
发布用户:styqjcgs
发布时间:2024-05-08 17:35:33
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世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
在航天领域,常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量,其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下,并且待测压力微小,此外还要求小型化、低功耗,故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。
基于电学法的热瞬态测试技术1.测试方法:电学法寻找器件内部具有温度敏感特性的电学参数,通过测量该温度敏感参数(TSP)的变化来得到结温的变化。TSP的选择:一般选取器件内PN结的正向结电压。测试技术:热瞬态测试当器件的功率发生变化时,器件的结温会从一个热稳定状态变到另一个稳定状态,T3Ster将会记录结温瞬态变化过程(包括升温过程与降温过程)。一次测试,既可以得到稳态的结温热阻数据,也可以得到结温随着时间的瞬态变化曲线。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
基于电学法的热瞬态测试技术1.测试方法:电学法寻找器件内部具有温度敏感特性的电学参数,通过测量该温度敏感参数(TSP)的变化来得到结温的变化。TSP的选择:一般选取器件内PN结的正向结电压。测试技术:热瞬态测试当器件的功率发生变化时,器件的结温会从一个热稳定状态变到另一个稳定状态,T3Ster将会记录结温瞬态变化过程(包括升温过程与降温过程)。一次测试,既可以得到稳态的结温热阻数据,也可以得到结温随着时间的瞬态变化曲线。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理,使用耐高温材料外壳和支撑架,部件连接采用固体焊接等耐高温工艺,实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量,并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施,提高了抗冲击、振动能力。
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对样值存储后,数字示波器再重构波形。显然示波器是否能重现真实的信号波形,其中关键的步骤就是采样。根据奈奎斯特抽样定律,要保证信号在恢复时不发生混迭现象和失真,采样率至少为信号频率带宽的2倍以上。可想而知,如果示波器采样速率不高,无法建立起的波形记录时,就会出现波现象,如所示显示为低频信号波形,或者触发显示为不稳定的波形。图2.数字示波器工作原理框图波现象的判断方法在实际测量中可以通过以下4个方法判断示波器测量的波形是否为波。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
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对样值存储后,数字示波器再重构波形。显然示波器是否能重现真实的信号波形,其中关键的步骤就是采样。根据奈奎斯特抽样定律,要保证信号在恢复时不发生混迭现象和失真,采样率至少为信号频率带宽的2倍以上。可想而知,如果示波器采样速率不高,无法建立起的波形记录时,就会出现波现象,如所示显示为低频信号波形,或者触发显示为不稳定的波形。图2.数字示波器工作原理框图波现象的判断方法在实际测量中可以通过以下4个方法判断示波器测量的波形是否为波。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
1、传感器测量原理
(1) 微压力测量原理
高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理,根据Fabry-Perot共振效应,F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示,为传感器原理示意图,感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理,压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变,从而改变F-P腔腔长,引起干涉谱变化,通过测量干涉光谱,即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化,从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高,可感受两个镜面之间纳米级的位移变化,可满足500 Pa微小压力的测量需要。
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“萨德”系统(THAAD)是美国研制的机动式 道防御系统,主要是针对高空进行拦截,采用 、红外、雷达三位一体的综合预方式。能与TMNMD系统相连接,而且射程远,防护区域大。该系统由拦截、车载式发射架、地面雷达,以及战斗管理与指挥、控制、通信、情报系统等组成。“萨德”系统(THAAD)有两套核心组件,其一是拦截,长6.17米,径.37米,起飞重量9公斤,速度可达25米/秒,由助推器、动能(KKV)及整流罩组成。
“萨德”系统(THAAD)是美国研制的机动式 道防御系统,主要是针对高空进行拦截,采用 、红外、雷达三位一体的综合预方式。能与TMNMD系统相连接,而且射程远,防护区域大。该系统由拦截、车载式发射架、地面雷达,以及战斗管理与指挥、控制、通信、情报系统等组成。“萨德”系统(THAAD)有两套核心组件,其一是拦截,长6.17米,径.37米,起飞重量9公斤,速度可达25米/秒,由助推器、动能(KKV)及整流罩组成。
(2) 传感器的仪器校准原理
在传感器探头确定的情况下,参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得,而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。
将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境,通过标准具得到压力、温度的标准量,通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线,再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线,用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系,从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较,可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。
测试设备校验广元-第三方公司LED的芯片其实就是个半导体,有如以下的IV曲线。反向电压如果加的过高,LED会因被击穿而损坏,所以很多时候我们需要去测量反向电压。若只是单纯要测量芯片的特性,基本上使用电源和万用表即可。主要可测试的项目包括正向电压、击穿电压、漏电流…测试LED的整体IV曲线特性几个参数正向电压:Vf击穿电压:Vr漏电流:IL这些项目的测试其实并不算困难,但必须要选对合适的测量仪器。若是选择了不适合的测量仪器,测试的值误差则会非常大。
测试设备校验广元-第三方公司LED的芯片其实就是个半导体,有如以下的IV曲线。反向电压如果加的过高,LED会因被击穿而损坏,所以很多时候我们需要去测量反向电压。若只是单纯要测量芯片的特性,基本上使用电源和万用表即可。主要可测试的项目包括正向电压、击穿电压、漏电流…测试LED的整体IV曲线特性几个参数正向电压:Vf击穿电压:Vr漏电流:IL这些项目的测试其实并不算困难,但必须要选对合适的测量仪器。若是选择了不适合的测量仪器,测试的值误差则会非常大。